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X射线反射测试(XRR)

X射线反射测试(XRR)

价 格:¥300

仪器安装地址:北京、深圳

检测能力:X射线反射测试(XRR)

检测周期:7 工作日

项目好评率:暂无评价

平均完成周期:2 工作日

服务次数:12 次

 

 

X射线粉末衍射仪
BRUCKER D8 ADVANCE 德国布鲁克公司(高温原位:日本理学/帕纳科锐影)          

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技术参数



测量精度:角度重现性:±0.0001°         测角仪半径:≥200mm,测角圆直径可连续变        靶源:配有铜靶和钴靶
最小步长0.0001°                                   角度范围(2θ):0.2°-140°                                  温度范围:室温~1500℃
最大输出功率:3KW                              管电压:20~60kV(1kV/1step)                            管电流:10~60mA

应用范围


布鲁克公司的D8 ADVANCE X射线衍射仪是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统,它设计精密,硬件软件功能齐全,能灵活地适应粉末,薄膜及完全晶体的各种微观结构测定,分析和研究任务。步进马达加光学编码器确保测角仪快速而准确定位,入射及衍射光路的各种附件均安装在高精度导轨上。同时配置有高温样台:试样所处高真空石墨罩,真空度达到2*10-3Mpa,试样最高可加热温度为1100℃。小角衍射最小角可以达到0.4°,主要测量介孔材料和其他高分子复合材料。广角衍射:最低角度可以达到5°,可以精确接收到小于10°的衍射峰。

物相分析                                  
可以对物质的组成及物相进行表征分析。                                  
定量分析                                  
通过精修可对物质的各组分进行精确的定量分析。                                  
高温原位分析                                  
通过高温原位实验可以研究温度对物质晶型转变的影响。  

        

 

 

 

 

 

服务方信息

专属客服

项目评价

检测质量:
5分
服务态度:
5分
检测时效:
5分
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