SEM场发射扫描电镜-热场（北京）

场发射扫描电子显微镜（热场）

ApreoC   赛默飞（ThermoFisher）

技术参数:

Technical Parameters

放大倍数: 200 倍-15 万倍

点分辨率: 1.0nm(WD)

样品台最大直径: 50mm

X射线能谱仪元素分析范围: B5 to 92

加速电压: 1-30KeV

信号选择:二次电子模式和背散射模

倾转角: T:-15°     to +90°， R:360°

X射线能谱仪能量分辨率: 127 &

应用范围：

Applied Range

lhermo Scientific Apre C 高性能场发射扫描电镜搭载独特的实时元素成像功能和先进的自动光学系

统，实现灰色区域解析

ThemmQ Scientific Anreo C 具有多功能性和高质量成像性能，即使是磁性样品或是传统意义上成像非

常困难的样品也可以实现极佳成像性能。全新 preg C 在原有性能基础之上，进一步优化了超高分辨成像

能力，并且增设许多新功能提升其高级功能的易用性。ApreaC 在耐用的 SEM平台上引入了 SmartAlig(智

能对中) 技术，不再需要用户手动进行调整操作，而且，FLASH (闪调)自动执行精细调节工作，只需移动

鼠标几次，就可以完成必要的透镜居中、消像散和聚焦校正。此外，Aprea. C 是唯一在 10 m分析工作距

离下具有1m分辨率的SEM，长工作距离不再意味着低分辨成像，有了Apreo C，任何用户都可以自信地

得到很好的成像效果。

利用它可以进行

 形貌分析                

通过形貌分析可获得样品的形貌、粒径、分散性等相关信息，同时还可通过专用的背散射探头对金属、陶瓷样品的质厚衬度像进行进一步的表征，可用于纳米材料、金属材料、薄膜材料、半导体材料、陶瓷材料、生物组织形貌像的观 察，同时还可对材料断口和失效模式进行分析。                

               

 成分分析                

微区成分分析，通过对样品微区、亚微区成分进行分析定性、定量分析，可确定样品的组成。可选择性的对样品进行能谱点测、能谱线扫、能谱面分布分析，获得样品中的元素在一个点、一条线、一个面上的分布情况。                

检测案例

二次电子像

背散射电子像

能谱点测检测案例

能谱线扫检测案例

能谱面扫检测案例

 粉末样品：样品量≥3mg(磁性样品必须由承检方制样)。
       

 液体样品：样品量≥0.5ml。        

 块体样品：长*宽*高≤30mm*30mm*30mm。